真空電子
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某雙模行波管批產(chǎn)中陰極組件出現(xiàn)的問題及剖析
本文介紹了一種陰極組件,在雙模行波管批產(chǎn)的應(yīng)用中,出現(xiàn)的一些問題及剖析,這些問題涉及到熱子組件、陰極發(fā)射以及陰極組件的尺寸問題等,這些問題的根源有源自陰極本身的,也有的是外界因素造成的,大部分的問題都
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如何克服釷鎢燈絲電子管的陰極濺散
本文通過對(duì)釷鎢燈絲電子管陰極濺散問題的分析及避免陰極濺散問題的探討,總結(jié)影響電子管陰極濺散的幾種因素,制定合理而科學(xué)的工藝規(guī)范,從而選用最佳的工藝方案,提高產(chǎn)品質(zhì)量。
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速調(diào)管用多孔漂移管高效加工技術(shù)
本文分析了速調(diào)管中多孔漂移管零件的特點(diǎn),比較電火花線切割、鉆模、加工中心三種加工方案加工此類零件的方法,最后優(yōu)選加工中心采用鉆孔、擴(kuò)孔的方式加工多孔漂移管零件,此加工方法加工精度和效率最優(yōu),實(shí)現(xiàn)了多孔
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相對(duì)帶寬11%的C波段寬帶多注速調(diào)管
本文介紹的一支C 波段寬帶MBK 是帶寬最寬,平均功率最大的管型。本文主要介紹該管的設(shè)計(jì)思路和研制情況,并給出測(cè)試結(jié)果。
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用金屬鉬加工磁控管調(diào)諧桿螺紋時(shí)的工藝分析
本文結(jié)合實(shí)際零件加工時(shí)刀具的材料、角度、切削用量的選擇和對(duì)金屬鉬熱處理方式的選擇,詳細(xì)分析了用金屬鉬加工磁控管調(diào)諧桿螺紋時(shí)為保證產(chǎn)品質(zhì)量所采取的工藝措施,為金屬鉬的常溫切削加工提供了有效的方法。
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隨機(jī)線路制造誤差對(duì)行波管小信號(hào)增益和相位的影響
本文借助于行波管CAD技術(shù)的最新發(fā)展,利用利用仿真軟件數(shù)值求解的方法,以V波段螺旋線行波管為例,對(duì)行波管性能的影響進(jìn)行了詳細(xì)分析,得出了一些有用結(jié)論。
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基于SolidWorks的真空滅弧室設(shè)計(jì)應(yīng)用軟件模型
本文以真空滅弧室的設(shè)計(jì)為研究主線,以三維造型軟件SolidWorks 2012為開發(fā)平臺(tái),以VisualBasic6.0為開發(fā)工具,建立真空滅弧室設(shè)計(jì)應(yīng)用軟件模型。
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Ka波段回旋振蕩管諧振腔研究
通過對(duì)比不同連接方式的復(fù)合腔對(duì)模式競(jìng)爭(zhēng)抑制效果,最終得出了一種更為有效抑制非工作模式的漸變諧振腔結(jié)構(gòu)。
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CW磁控管與脈沖磁控管效率差異初探
本文將從磁控管中電子回旋運(yùn)動(dòng)、電子挑選、相位聚焦、振蕩建立、以及與工作條件、結(jié)構(gòu)參數(shù)等各個(gè)方面出發(fā),定性地初步作些探討,以后有條件時(shí)將進(jìn)一步作定量的研究。
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燃弧參數(shù)對(duì)小間隙真空電弧特性的影響
本文采用數(shù)值模擬技術(shù),求解真空電弧真空電弧磁流體動(dòng)力學(xué)模型,得到陽(yáng)極表面EFD的徑向分布,進(jìn)而提出了真空電弧調(diào)控策略,抑制電弧收縮,可進(jìn)一步提高真空開關(guān)的開斷能力。
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CNTs/MnOx@C一維殼核納米復(fù)合材料的制備及其鋰電性能研究
通過一步溶液法輔以熱處理制備出CNTs/MnOx@C納米復(fù)合材料,分析該材料的結(jié)構(gòu)、形貌、成分以及鋰存儲(chǔ)性能,并討論碳包覆對(duì)于該一維殼核CNTs/MnOx@C納米復(fù)合材料的影響。
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柵控脈沖行波管抑制束流波動(dòng)的研究
本文通過微波管仿真軟件MTSS和磁場(chǎng)仿真軟件Maxwell,對(duì)應(yīng)用于X波段脈沖柵控行波管的電子槍和周期永磁聚焦系統(tǒng)進(jìn)行了優(yōu)化設(shè)計(jì),研究了過渡區(qū)磁場(chǎng)對(duì)束流穩(wěn)定性的影響。
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Ka波段螺紋波導(dǎo)回旋行波管大回旋電子槍的研究與設(shè)計(jì)
從拉氏方程出發(fā),推導(dǎo)了大回旋電子槍(CUSP) 的理論,得到了用于Ka 波段螺紋波導(dǎo)回旋行波管大回旋電子槍的基本參數(shù)。
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離子推力器放電室等離子體電勢(shì)診斷方案研究
應(yīng)用發(fā)射探針診斷離子推力器放電等離子體的參數(shù),介紹了發(fā)射探針診斷等離子體電勢(shì)的原理,發(fā)射探針診斷離子推力器放電室等離子體的方案及探針系統(tǒng)的組成。
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二次電子發(fā)射系數(shù)的光電測(cè)試方法研究
本文提出了二次電子發(fā)射系數(shù)的光電測(cè)試方法。利用該方法對(duì)氧化鎂薄膜材料的二次電子發(fā)射系數(shù)進(jìn)行了測(cè)試研究,并對(duì)電子倍增器增益及使用壽命進(jìn)行了測(cè)試分析。
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